[Contents] AFM(Atomic Force Microscopy) 원리와 특성, AFM 활용분야, 측정 시 주의사항 원리와 특성 AFM(Atomic Force Microscopy)은 원자 강도에 기반한 고해상도 이미징 기술로, 팁과 시료 표면 간의 반더발스 힘을 검출하여 시료의 표면을 조사합니다. Cantilever라 불리는 작은 팔의 끝에 위치한 팁은 레이저에 의해 반사되고, 이 반사된 레이저의 위치를 이용하여 시료의 표면을 스캔하면서 이미지를 생성합니다. AFM의 분해능은 주로 팁의 두께에 의해 결정되며, 나노미터 크기의 원자 수준까지 관찰이 가능합니다. AFM은 비접촉 모드와 접촉 모드로 구분되며, 비접촉 모드는 시료와 팁 사이의 인력을 검출하고, 접촉 모드는 원자 사이의 척력을 검출합니다. ..