지식세계에서 빛나는 해바라기

Contents1. FIB에 대해 2. FIB 활용분야 3. FIB 원리 4. FIB의 종류 (장,단점) 5. 용어 =====FIB에 대해===== FIB는 Focused Ion Beam의 약자로, 집중된 이온 빔을 이용하여 물질을 가공하거나 조작하는 고급 분석 및 가공 기술입니다. FIB는 일반적으로 SEM과 같이 사용되며, SEM과 마찬가지로 이온을 이용하여 이미지를 생성합니다. 하지만 SEM은 전자를 이용하고, FIB는 이온을 이용하여 샘플의 표면을 가공하거나 조작합니다. 이온 빔은 높은 에너지를 가지고 있으므로, 샘플에 충돌하면서 샘플의 표면을 가공하거나 재료를 제거할 수 있습니다. FIB는 다양한 분야에서 활용됩니다. 가장 일반적인 용도는 미세 전자공학 및 재료 과학 분야에서의 재료 가공입니다...

전자현미경(Transmission Electron Microscope) TEM은 빠른 전자 빔을 사용하여 물체의 구조를 관찰하는 고급 현미경 기술입니다. 작동 원리: TEM은 전자 광학 원리를 기반으로 하며, 빛보다 훨씬 짧은 파장의 전자를 이용하여 물체를 관찰합니다. 전자 총량 생성: TEM은 먼저 전자 광원에서 전자 빔을 생성합니다. 이때 열전자 방출 또는 필드발광 방식을 사용할 수 있습니다. 작동순서 -빔 조작: 생성된 전자 빔은 총량에 의해 광학적으로 조작되어 물체에 향하도록 조준됩니다. -물체 투과: 전자 빔이 물체를 통과하면서 물체 내부 구조에 의해 산란되거나 흡수됩니다. -이미지 생성: 산란되거나 흡수된 전자들은 물체의 구조 정보를 담은 이미지로 캡처되고, 이 이미지는 컴퓨터를 통해 해석되어..

[ENG] [Tech.] SEM & EDS =====SEM & EDS===== SEM (Scanning Electron Microscopy) is a scanning electron microscope and EDS (Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy) is an X-ray spectroscopic analyzer. SEM can take high-esolution images, and EDS can determine the elemental composition and amount of a material. =====SEM & EDS principle===== SEM is an equipment that directly shoots electrons on the samp..

[KOR] [Tech.] SEM & EDS =====SEM & EDS===== SEM(Scanning Electron Microscopy)은 전자주사현미경, EDS(Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy)는 X선 분광 분석기입니다. SEM은 높은 해상도의 이미지를 촬영할 수 있으며, EDS는 물질의 원소 구성과 양을 파악할 수 있습니다. =====SEM & EDS 원리===== SEM은 전자 총량 증폭방식으로 샘플 표면에 직접 전자를 쏘아 미세 구조를 관찰하는 장비입니다. 전자 쏘기, 샘플 표면에서 방출되는 신호 수집, 이미지 생성 등의 과정을 거칩니다. EDS는 SEM에서 생성된 전자 빔이 샘플 내의 원자를 충돌시켜 X-선을 방출하는 현상을 이용합니다. 이 X-선의 빈도와 강..