XPS는 X-선 광전자 분광법 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)의 약자로, 고체 표면의 화학적 성분과 전자 상태를 분석하는 분석 기술입니다. XPS는 X-선을 쏘아 표면의 원자들을 광전자로 만들어내고, 이 광전자의 운동 에너지를 측정하여 원자의 전자 상태와 화학적 성분을 분석합니다. 이를 통해 표면의 화학적 성분, 원자의 산화 상태, 결합 상태 등을 분석할 수 있습니다. XPS의 특징 고체 표면의 화학적 성분과 전자 상태를 분석할 수 있습니다. 분석 대상이 고체이기 때문에, 샘플의 크기나 형태에 제한이 없습니다. 분석 결과가 정확하고, 반복성이 높습니다. XPS의 장점 고체 표면의 화학적 성분과 전자 상태를 정확하게 분석할 수 있습니다. 분석 대상이 고체이기 때문에, 샘플의 ..
